1대로 용량치와 tan δ ( ESR ) (을)를 다른 주파수로 동시 측정
(생산 라인용, 1대로 2대 분의 측정을 합니다.)
·DB230/231 캐패시턴스 테스터
테스트 주파수 1 M, 100 K, 10 K, 1 KHz, DB230는 외부 모듈 첨부
·DB232 캐패시턴스 테스터
테스트 주파수 100 K, 10 K, 1 K, 100 Hz(120 Hz), 외부 모듈 첨부
·DB236 캐패시턴스 테스터
테스트 주파수 100 K, 10 K, 1 K, 100 Hz(120 Hz), 외부 모듈 첨부
impedance(Z,θ)도 측정
고성능 발진기에 의해, 대용량 콘덴서의 용량치,
tan δ(ESR)(을)를 100 KHz 매우 정확하게 안정되어 측정할 수 있습니다.
(탄 탈, 전기분해 콘덴서에도 최적) ［ 특 징 ］
● 광범위 측정
0.1pF―3 mF이상(기본 정도내), 광범위의 용량(측정 주파수에 의해 한정)을 측정할 수 있다
LCR 미터로, 정밀 콘덴서의 고속 생산 라인용 측정기로서 최적입니다.특히 100
KHz로의 각종 파라미터를, 고속으로 정확하게 안정되어 측정할 수 있습니다.
DB236는 Z도 측정할 수 있어 탄 탈, 전기분해 콘덴서등의 고용량 콘덴서 생산 라인
용측정기라고 해도 최적입니다.
● 고정밀도 측정
용량 측정 정도 0.05%이하, tan δ기본 측정 정도 2×10 －4 이하(분해가능 0.00001)
의 고정밀도로 측정할 수 있습니다.
● 4 측정 주파수(4개의 발진기 내장)
1 MHz, 100 KHz, 10 KHz, 1 KHz(DB230/231) 또는 100 KHz,
10 KHz, 1 KHz, 100(120) Hz(DB232/236)의 주파수로 측정할 수 있습니다.
또 용량치와 tanδ(ESR)를, 다른 주파수로 동시에 측정해
디스플레이에 표시 할 수 있습니다. 용량을 1 KHz, tanδ를 100 KHz,
생산 라인용으로 1대로 2대 분의 역할을 합니다. DB236는 동시에 복수의 파라미터를 4주파수까지 측정할 수 있습니다.
● 고속 측정
트리거 입력으로부터 릿미트 출력까지의 측정 시간은 6 mS－20 mS의 고속으로.
● 2 종류의 측정 모드
용량 측정은%편차 또는 직독, 손실 측정은 tanδ/ ESR로 고속측정할 수 있습니다.
● 컨택트 체크 기능
4 단자의 접촉 상태를, 측정전에 컨택트 체크 기능에 의해 감시할 수 있습니다.
● 아베레이징 기능
측정을 2－99회 실시해, 측정치를 고속으로 아베레이징 할 수 있습니다.
● 12종의 리밋트 출력
내장 콤퍼레이터로 측정치를 최고 12 종류의 용량 정도와 최고 4 종류의 손실로
분류할 수 있습니다. ● 입력 보호
최고 1000 V, 2 줄까지의 입력 보호 회로를 내장하고 있습니다.
● 측정 전압, 내부 바이어스 전압 가변
측정 전압을 0.1 V에서 1 V까지, 0.1 V스텝에서 가변할 수 있습니다.
또±3 Vdc까지 의 바이어스 전압을 0.1 V스텝에서 인가할 수 있습니다. (DB230/232/236은 외부 입력그리고±48 V까지의 바이어스 전압을 인가할 수 있습니다.) ● 측정 케이블
DB231는 1 m, DB230/232/236은 외부 브릿지 모듈까지 5 m, 거기로부터
1 m의 측정 케이블을 접속할 수 있습니다.
● 심플 오퍼레이션
대형 디스플레이에 표시 메뉴를 보면서, 소프트키로 간단하게 설정할수있습니다.
● 인터페이스
GP－IB(IEEE488)와 RS232C 인터페이스를 표준 장비하고 있습니다.
PC카드(옵션)로 각종 설정을 메모리 할 수 있어 컴퓨터로 편집할 수 있습니다.
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■션트저항기(shunt-resistor) 등의 초저저항 (마이크로/미크론 옴(uΩ) , 밀리옴(mΩ) 체커기
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