Micoprobe / 다관절 Probing Arm의 혁신

 

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Micoprobe / 다관절 Probing Arm의 혁신

 

 

 

광범위 Probing

2곳의 전방향 관절에 의한 자유자재의 Probing. 예) PA-400(반경 400mm이내 Probing)

 

 

고밀도 SMT기판에 대응

 

.레코드판에 바늘을 올리듯 사용자의 조작성을 최대한 고려 설계
.Oscilloscope Probe에 비해 작은 투영면적과 날카로운 접촉부로써 고밀도 SMT기판대응.

.Probe 각도에 따라 대상물에 의한 최적의 각도조정이 가능하며 Probe에 절연커버가 장착, 2개의 Probe를 동시사용가능.

 

 

접촉위치 안정성

.Free Joint 방식채용으로 중량과 Probe의 밸런스 설계에 의해 고정도 고정밀 접촉성 실현.

.상단의 연속사진과 같이 기판을 상하좌우로 이동해도 Probing 위치불변, 측정신호 안정.

자세한 내용은 다음의 미코프로브의 조작성(동영상) 참조.

 

 

안전성

.Probe가 접촉부에서 멀어져도 Probe가 기판의 레지스터를 손상시키지 않는 중량으로 설계.
.Probing Arm의 중량 및 Probe의  최적화 설계에 의한 양호한 접촉성과 안전성 실현.
.약 70 gf의 낮은 접촉압 설계(손으로 직접Probing시 약 200 gf~800 gf정도).　
.박판이나 Flexible 기판등에 사용시 Hand Probing과 비교해 파손을 예방.

 

 

전기적특성

 

.Probe는 절연성이 뛰어난 쥬라콘수지 계열로써  절연성 우수.

.IC클립 사용시와 비교해 신호와 기판과의 거리를 일정유지, 부가용량의 발생을 억제, 광대역의 측정이 가능.

.G대역등의 고주파 측정을 위해 Signal과 GND를 최대한 근접이 필요시 또는 Oscilloscope Probe에 직접연결형의 특수사양도 제작가능.

 

 

Probing System 구축

.본 Probing Arm은 2개 이상의 병행사용이 간편, 또한 복수측정시 TWIN  Arm Type형 사용.
.기존사양 이외의 특수주문가능(Arm길이, 접촉압, 오실로프로브 직접연결)

 

 

 

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