ADEX 계측기 수입, 유통 판매, 수리지원하는 해성시스템입니다
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이 제품 이외에도 관심있으신 제품이 있다면 언제든지 편하게 문의해주시길 바랍니다.
☞ 해성시스템 ( Hae Sung Systems, Inc.)
서울 특별시 용산구 원효로128. e- 테크 밸리 507 번지
☎ 02) 2233-8949, 02) 711-6944 ☎ 010) 2948-6944 / Fax : 02) 2233-4989
ADEX Brand Tester는 자동화기기에 장착되어 시료의 고속측정 및 비교기 ( comparator )가
내장되어있어 시료의 비교판정 결과를 설정된 하한값( LO )불량/ GO 양품 / 상한값 (HI)불량을
LED 및 부저 ( buzzer )로 설정값의 양/부판정이 가능합니다
2차전지, 밧데리, 전지 내부저항/전압 (IR/OCV)배터리테스터,
밀리옴(mΩ)미터, 써미스터(저항) 비교 체커기, 하이테크 핀셋 ( siva-touch ) 전문
■2차전지, 밧데리, 전지등의 내부저항/전압 (IR/OCV)체커기
■션트저항기(shunt-resistor) 등의 초저저항 (마이크로/미크론 옴(uΩ) , 밀리옴(mΩ) 체커기
■멀티리드저항 및 네트워크 저항기( 2채널, 4채널, 8채널, 10채널, 20채널 ) 체커기
■써미스터(Thermistor ,저항 온도센서) ( 1채널 , 2채널 ) 비교 체커기
■2채널 LED 체커기. 디지털 용량 체커기
■Relay Switch 접점 저항체커기
■옴 미터, 메가옴저항 (MΩ), 기가옴 저항체커기(GΩ)
■낮은 임피던스 콘덴서의 ESR / Z 체커 , 콘덴서의 손실전류( leak current )체커
■하이테크 핀셋 ( siva-touch )
■Electrial Safety Tester, 내전압시험기, 절연저항측정기
■AC 전원공급기, DC 전원공급기 전문
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B254 Double IRCT Scanner System IR Test 50V to 2kV. System has been designed to combine the high measurement quality of Insulation Resistance, Capacitance and Tan d in either quality control departments or when testing smaller sized production runs.
It has been designed to fully satisfy the high demands of capacitor manufacturers’ quality departments or official approval bodies of electrical equipment.
Among the major benefits by choosing one of the DB254 Scanner Systems are faster, easier and more safe operation than the traditional methods.

DB254 Double IRCT Scanner System
-
Fully automatic turnkey systems
-
Fast and automatic test parameters as
Voltage test, IR test, capacitance and
dissipation factor tests. -
All capacitance measurements are
performed with 4-terminal fixtures with
active guard for excellent results
even at 100kHz. -
All features controlled by Windows
operated software -
Measurement reports are generated
automatically for printout or in a spreadsheet
format for easy and detailed examination. -
Easily managed and intuitive user interface
HARDWARE
A scanner system can be tailor made to fit the requirements of the individual customer from the different Danbridge products.The scanner unit is a central part of a scanner system.
This will be DB254.Furthermore, the Scanner System DB254 will contain the following items:
- one CLR tester, DB232.
- one Megohmmeter, DB604.
- one 40 channel Insulation Resistance scanner, DB640
- one standard PC equipped by latest version of Control Software.
- one printerAll system parts will be integrated at Danbridge, and set operational at the customers site by authorized Danbridge personnel.
| Specifications DB254 DB254 Double IRCT Scanner System | |
| Measured parameters | High voltage, Insulation Resistance, Leakage Current, Capacitance Dissipation Factor, |
| Measuring Frequencies | 100/120 Hz, 1 kHz, 10 kHz and 100 kHz |
| Measuring Time | Complete test for 40 capacitors in less than 5 minutes. |
| Maximum testing Voltages |
For capacitors with lead distance - ³ 7.5 mm: Max 2000Volts. - ³ 5 mm: Max 1000 Volts. |
| Fixtures | 40 sets of 4-terminal Kelvin contacts, for axial and radial components. Optional SMD Fixtures available. |
| Interfaces | IEEE 448 (GPIB). |
| Environment | Ambient temperature: 10 - 40 degrees Celsius. |
| Power | 90 - 130V AC/120 - 250V AC/ 50 - 60Hz. |
![]() |
|
| Accuracy for DC Current Measurements | |
| Accuracy | ±2% of value ±2pA |
| C | 100/120 kHz | 1 k Hz | 10k Hz | 100 kHz |
| 30 - 100pF | - | ±0.5% | ±0.1 | ±0.1% |
| 100 - 400pF | ±0.1% | ±0.1% | ±0.1% | ±0.1% |
| 400pF - 159nF | ±0.1% | ±0.05% | ±0.05% | ±0.05% |
| 159nF - 1?F | ±0.1% | ±0.05% | ±0.05% | ±0.05% |
| 1?F - 10?F* | ±0.5% | ±0.1% | ±0.1% | ±0.1% |
| 10?F - 300?F | ±0.5%*C/Cmin | ±0.5%*C/Cmin | ±0.1%*C/Cmin | - |
| Note: No Specification better than ±0.1pF | ||||
| Accuracy for Dissipation Factor | ||||
| Tan ¶ | 100/120 kHz | 1 kHz | 10 kHz | 100 kHz |
| 30 - 100pF | - | ±0.0005% | ±0.0005% | ±0.0010% |
| 100 - 400pF | ±0.0010% | ±0.0002% | ±0.0002% | ±000.5% |
| 400pF - 159 nF | ±0.0007% | ±0.0002% | ±0.0002% | ±0.0003% |
| 159nF - 1?F | ±0.0005% | ±0.0002% | ±0.00002% | ±0.0005% |
| 1F? - 10?F* | ±0.0007% | ±0.0007% | ±0.000.7% | ±0.0007% |
| 10?F - 300?F | ±0.0007*C/Cmin | ±0.0007*C/Cmin | ±0.0007*C/Cmin | ±0.0007*C/Cmin |
| *Average Count higher than 4 | ||||
| ALL SPECIFICATIONS SUBJECT TO CHANGES WITHOUT PRIOR NOTICE | ||||
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서울 특별시 용산구 원효로128. e- 테크 밸리 507 번지
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■션트저항기(shunt-resistor) 등의 초저저항 (마이크로/미크론 옴(uΩ) , 밀리옴(mΩ) 체커기
■멀티리드저항 및 네트워크 저항기( 2채널, 4채널, 8채널, 10채널, 20채널 ) 체커기
■써미스터(Thermistor ,저항 온도센서) ( 1채널 , 2채널 ) 비교 체커기
■2채널 LED 체커기. 디지털 용량 체커기
■Relay Switch 접점 저항체커기
■옴 미터, 메가옴저항 (MΩ), 기가옴 저항체커기(GΩ)
■낮은 임피던스 콘덴서의 ESR / Z 체커 , 콘덴서의 손실전류( leak current )체커
■하이테크 핀셋 ( siva-touch )
■Electrial Safety Tester, 내전압시험기, 절연저항측정기
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