손실전류 측정기

DB254 Double IRCT Scanner System (IR Test 50V to 2kV)

ADEX계측기 한국대리점 , 유통 판매, 수리지원 2007. 3. 6. 02:24

ADEX 계측기 수입, 유통 판매, 수리지원하는 해성시스템입니다

ADEX계측기 제품구입문의 및 수리문의 / 계측기대여 문의 및

이 제품 이외에도 관심있으신 제품이 있다면 언제든지 편하게 문의해주시길 바랍니다.

 해성시스템 ( Hae Sung Systems, Inc.)

서울 특별시 용산구 원효로128. e- 테크 밸리 507 번지

☎ 02) 2233-8949, 02) 711-6944 ☎ 010) 2948-6944 / Fax : 02) 2233-4989

ADEX Brand Tester는 자동화기기에 장착되어 시료의 고속측정 및 비교기 ( comparator )가

내장되어있어 시료의 비교판정 결과를 설정된 하한값( LO )불량/ GO 양품 / 상한값 (HI)불량을

LED 및 부저 ( buzzer )로 설정값의 양/부판정이 가능합니다

http://naver.me/xbDsr3M8

2차전지, 밧데리, 전지 내부저항/전압 (IR/OCV)배터리테스터,

밀리옴(mΩ)미터, 써미스터(저항) 비교 체커기, 하이테크 핀셋 ( siva-touch ) 전문

 

■2차전지, 밧데리, 전지등의 내부저항/전압 (IR/OCV)체커기

■션트저항기(shunt-resistor) 등의 초저저항 (마이크로/미크론 옴(uΩ) , 밀리옴(mΩ) 체커기

■멀티리드저항 및 네트워크 저항기( 2채널, 4채널, 8채널, 10채널, 20채널 ) 체커기

■써미스터(Thermistor ,저항 온도센서) ( 1채널 , 2채널 ) 비교 체커기

■2채널 LED 체커기. 디지털 용량 체커기

■Relay Switch 접점 저항체커기

■옴 미터, 메가옴저항 (MΩ), 기가옴 저항체커기(GΩ)

■낮은 임피던스 콘덴서의 ESR / Z 체커 , 콘덴서의 손실전류( leak current )체커

■하이테크 핀셋 ( siva-touch )

■Electrial Safety Tester, 내전압시험기, 절연저항측정기

■AC 전원공급기, DC 전원공급기 전문

 
 
 
40개의 콘덴서의 용량치, Tanδ(ESR), 절연 시험, 절연 저항을 자동으로
          고속측
정해, 프린트 아웃합니다.
측정 주파수는 100 Hz, 1 KHz, 10 KHz, 100 KHz를
         동시 또는 선택할 수 있어
용량치와 Tanδ를 다른 주파수로 측정할 수 있습니다
 
 
래디얼 타입, 팁 타입 등 각종 콘덴서용 지그에 대응하고 있습니다.
내압 전압은 최고 2000 Vdc까지 가능합니다.
전용 일본어 소프트로 간단하게 설정할 수 있어 측정치를
    프린트 아웃할 수 있습니다.
 
콘덴서의 다품종, 소량 생산용으로서 최적입니다.
 
   카탈로그, 자료(PDF 파일)
 
 

B254 Double IRCT Scanner System IR Test 50V to 2kV. System has been designed to combine the  high measurement quality of Insulation Resistance, Capacitance and Tan d in either quality control departments or when testing smaller sized production runs.

It has been designed to fully satisfy the high demands of capacitor manufacturers’ quality departments or official approval bodies of electrical equipment.
Among the major benefits by choosing one of the DB254 Scanner Systems are faster, easier and more safe operation than the traditional methods.



DB254 Double IRCT Scanner System

  • Fully automatic turnkey systems
     
  • Fast and automatic test parameters as 
    Voltage test, IR test, capacitance and 
    dissipation factor tests.
     
  • All capacitance measurements are 
    performed with 4-terminal fixtures with 
    active guard for excellent results 
    even at 100kHz.
     
  • All features controlled by Windows 
    operated software
     
  • Measurement reports are generated 
    automatically for printout or in a spreadsheet 
    format for easy and detailed examination.
     
  • Easily managed and intuitive user interface
 

 

HARDWARE

A scanner system can be tailor made to fit the requirements of the individual customer from the different Danbridge products.The scanner unit is a central part of a scanner system. 
This will be DB254.
Furthermore, the Scanner System DB254 will contain the following items:
- one CLR tester, DB232.
- one Megohmmeter, DB604.
- one 40 channel Insulation Resistance scanner, DB640
- one standard PC equipped by latest version of Control Software.
- one printer
All system parts will be integrated at Danbridge, and set operational at the customers site by authorized Danbridge personnel.

Specifications  DB254 DB254 Double IRCT Scanner System
Measured parameters High voltage, Insulation Resistance, Leakage Current, Capacitance Dissipation Factor,
Measuring Frequencies  100/120 Hz, 1 kHz, 10 kHz and  100 kHz
Measuring Time Complete test for 40 capacitors in less than 5 minutes.
Maximum testing
Voltages
 For capacitors with lead distance
 -    ³ 7.5 mm: Max 2000Volts.
   -   ³ 5 mm: Max 1000 Volts.
Fixtures  40 sets of 4-terminal Kelvin contacts, for axial and radial components. Optional SMD Fixtures available.
Interfaces  IEEE 448 (GPIB).
Environment  Ambient temperature: 10 - 40 degrees Celsius.
Power 90 - 130V AC/120 - 250V AC/
50 - 60Hz.

Accuracy for DC Current Measurements
Accuracy  ±2% of value ±2pA
   C 100/120 kHz 1 k Hz 10k Hz 100 kHz
 30 - 100pF -  ±0.5%  ±0.1  ±0.1%
 100 - 400pF  ±0.1%  ±0.1%  ±0.1%  ±0.1%
 400pF - 159nF  ±0.1%  ±0.05%  ±0.05%  ±0.05%
 159nF - 1?F  ±0.1%  ±0.05%  ±0.05%  ±0.05%
 1?F - 10?F*  ±0.5%  ±0.1%  ±0.1%  ±0.1%
 10?F - 300?F  ±0.5%*C/Cmin  ±0.5%*C/Cmin  ±0.1%*C/Cmin   -
Note: No Specification better than ±0.1pF
Accuracy for Dissipation Factor
Tan ¶ 100/120 kHz 1 kHz 10 kHz 100 kHz
 30 - 100pF   -  ±0.0005%  ±0.0005%  ±0.0010%
 100 - 400pF   ±0.0010%  ±0.0002%  ±0.0002%  ±000.5%
 400pF - 159 nF  ±0.0007%  ±0.0002%  ±0.0002%  ±0.0003%
 159nF - 1?F  ±0.0005%  ±0.0002%  ±0.00002%  ±0.0005%
 1F? - 10?F*  ±0.0007%  ±0.0007%  ±0.000.7%  ±0.0007%
 10?F - 300?F  ±0.0007*C/Cmin  ±0.0007*C/Cmin  ±0.0007*C/Cmin  ±0.0007*C/Cmin
*Average Count higher than 4
 ALL SPECIFICATIONS SUBJECT TO CHANGES WITHOUT PRIOR NOTICE

 

 
 

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내장되어있어 시료의 비교판정 결과를 설정된 하한값( LO )불량/ GO 양품 / 상한값 (HI)불량을

LED 및 부저 ( buzzer )로 설정값의 양/부판정이 가능합니다

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2차전지, 밧데리, 전지 내부저항/전압 (IR/OCV)배터리테스터,

밀리옴(mΩ)미터, 써미스터(저항) 비교 체커기, 하이테크 핀셋 ( siva-touch ) 전문

■2차전지, 밧데리, 전지등의 내부저항/전압 (IR/OCV)체커기

■션트저항기(shunt-resistor) 등의 초저저항 (마이크로/미크론 옴(uΩ) , 밀리옴(mΩ) 체커기

■멀티리드저항 및 네트워크 저항기( 2채널, 4채널, 8채널, 10채널, 20채널 ) 체커기

■써미스터(Thermistor ,저항 온도센서) ( 1채널 , 2채널 ) 비교 체커기

■2채널 LED 체커기. 디지털 용량 체커기

■Relay Switch 접점 저항체커기

■옴 미터, 메가옴저항 (MΩ), 기가옴 저항체커기(GΩ)

■낮은 임피던스 콘덴서의 ESR / Z 체커 , 콘덴서의 손실전류( leak current )체커

■하이테크 핀셋 ( siva-touch )

■Electrial Safety Tester, 내전압시험기, 절연저항측정기

■AC 전원공급기, DC 전원공급기 전문