ADEX社 저항계측기, 2차전지 밧데리 IR/OCV체커, 콘덴서 MLCC용량체커
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동영상 https://youtu.be/Kqv8DReeFqI
개요
불량 부품은 신뢰성이 떨어질 뿐만 아니라 비선형적인 특성을 보입니다.
따라서 부품을 통과하는 순수 정현파 전류의 왜곡을 측정함으로써 효과적인 품질 관리를
수행할 수 있습니다. 댄브리지 CLT 시스템은 3차 고조파의 왜곡을 측정하고,
이를 부품의 신뢰성과 품질 지표로 활용합니다.
부품 배치 내 왜곡 값의 중앙값까지 비선형성을 측정함으로써 부품의 합격 또는 불합격 여부를 신속하게 판별할 수 있습니다.
CLT 시스템의 측정 방식은 다른 신뢰성 테스트 방식에 비해 여러 가지 장점을 제공합니다. 그중 가장 중요한 특징은 측정 속도가 빠르다는 점으로, 이를 통해 100% 생산 테스트를 수행할 수 있습니다.
일반적인 적용 분야:
금속 필름 저항기, 콘덴서의 테스트, 오디오 등급 부품의 차폐 및 전기 접점의 잡음 측정에 사용됩니다.
또한, 3차 고조파 측정법은 국제 전자 위원회(IEC)의 승인을 받았으며, 일본 전자 산업 협회의 기술 문서 IEC-440(RCF-2003) 및 미국 국방부 산하 기관의 MIL-PRF-55182H 문서에도 명시되어 있습니다.
CLT－20 부품 직선성 시험 장치는, CLT－10 부품 직선성 시험 장치에 저impedance용
매칭 트랜스를 사용할 수 있는 기능을 부가한 것으로,
10 mΩ이하로부터 22 MΩ이상까지의매우 광범위의 전자 부품을 측정할 수 있습니다.
CLT－10 부품 직선성 시험 장치는, 덴마크·라디오 미터사에 의해서 1965년에 개발된,
CLT－1 부품 직선성 시험 장치를, 측정원리그대로 모델 체인지 한 것으로,
덴마크·RE사에 의해서 개발되어 현재는 덴마크·댄 브릿지사에서
생산 판매되고 있습니다.
또 CLT－10의 기능(은)는 그대로, 저항기나 콘덴서등의 전자 부품의 직선성
( 제3 고조파 폐해율)의 측정, 그측정치의 불균형에 의해 그 부품의 신뢰성의 테스트에 최적이고, 고속 생산 라인상에서 불량품의자동 검출, 제거를 할 수 있습니다.
리드 선, 대용량 전기분해 콘덴서로부터 고저항까지의 광범위의 오디오용 전자 부품의
고감도 제 3 고조파 폐해율계라고 해도 사용할 수 있습니다.
(MIL-PRF-55182-G, IEC440 준거)
전극과 리드 선의 컨택트 불량의 검출
매우 저폐해의 부품을 측정할 수 있습니다.
측정 시간 10 mS이하의 고속 측정
● RS232C, IEEE 표준 장비
저impedance용 매칭 트랜스는, 10 mΩ이하로부터 30Ω까지를 4 단자로 측정
합니다. CLT－10을 CLT－20에 개조할 수 없습니다.
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2차전지, 밧데리, 전지 내부저항/전압 (IR/OCV)배터리테스터,
밀리옴(mΩ)미터, 써미스터(저항) 비교 체커기, 하이테크 핀셋 ( siva-touch ) 전문
■2차전지, 밧데리, 전지등의 내부저항/전압 (IR/OCV)체커기
■션트저항기(shunt-resistor) 등의 초저저항 (마이크로/미크론 옴(uΩ) , 밀리옴(mΩ) 체커기
■멀티리드저항 및 네트워크 저항기( 10채널, 20채널 ) 체커기
■써미스터(Thermistor ,저항 온도센서) ( 1채널 , 2채널 ) 비교 체커기
■2채널 LED 체커기. 디지털 용량 체커기
■Relay Switch 접점 저항체커기
■옴 미터, 메가옴저항 (MΩ), 기가옴 저항체커기(GΩ)
■낮은 임피던스 콘덴서의 ESR / Z 체커 , 콘덴서의 손실전류( leak current )체커
■하이테크 핀셋 ( siva-touch )
■Electrial Safety Tester, 내전압시험기, 절연저항측정기
■AC 전원공급기, DC 전원공급기 전문